一、概述
“单片机综合实验箱”集编程、显示、通信接口于一体，实验内容涵盖了《单片机原理与接口》、《单片机控制技术》、《自动化控制》等课程教学，适合大中专院校开展单片机教学实验、课程设计及科研开发。能为各类院校的教学实验、课程设计、毕业设计提供了良好的实验开发环境。也可作为科研、开发工作者的得力助手。二、系统特点
1.丰富的接口电路，这些单片机接口电路涵盖了MCU的各个应用领域，并能够提供用户领先的应用和设计方法。
2.提供单片机ISP下载器。
3.提供各种接口电路的应用范例和测试程序以及详细的应用说明，帮助用户快速的掌握这些接口的应用方法。
三、技术性能
1.输入电源：单相三线220V±10% 50Hz
2.工作环境：温度-10℃～+40℃ 相对湿度 <85%（25℃） 海拔 <4000m
3.绝缘电阻：大于3MΩ
4.容量：<60VA
四、系统组成
实验箱为铝合金框架结构，实验箱由主板（黑色线路板、多种电源系统，电源带全自动保护）、各种模块（共计45种，能自由插拔供取下学生练习,各种模块的供电电源均为：+5V/1A，±12V/0.5A，0-5V可调电压信号）和ISP下载器组成。
具体模块配置如下表：
| 序号 | 名称 | 描述 | 备注 |
| 1 | 最小系统模块 |
1.提供CPU（AT80S52）最小系统，设计有DIP40芯片锁紧座，具有数据和地址总线专用接口。 2.提供专用铜插座引出各种I/O接口，能够自由更换各种实验系统时钟。 |
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| 2 | 通用功能模块 |
1.16*16LED点阵（配有电源开关） 2.八位LED数码管动态显示（配有电源开关） 3.LCD1602液晶显示器（配有电源开关） 4.LCD12864液晶显示器（配有电源开关） 5.ADC0809并行ADC 6.EC11编码器 7.8253扩展电路 8.AT24C02存储器 9.DAC0832并行DAC 10.74LS273与LS244并行扩展IO 11.继电器（带有状态指示灯） 12.温度传感器（DS18B20） 13.红外接收头（VS1838B）（配红外遥控器） 14.实时时钟（PCF8563） 15.AT24C02 IC卡 16.164模块 17.165模块 18.3-8译码器 19.AT93C46存储器 20.TLC549串行ADC 21.TLC5615串行DAC 22.八位独立按键 23.无源蜂鸣器 24.单次脉冲 25.跟随器Ⅰ 26.跟随器Ⅱ 27.八位逻辑电平输出 28.八位逻辑电平显示 29.键盘系统（4*4） 30.十字交通灯 31.五位LED数码管静态显示（配有电源开关） 32.固定时钟源（8MHz） 33.分频器（24路分频输出） 34.8155扩展电路 35.8255扩展电路 36.NTC热敏电阻 37.光敏电阻 38.PCF8591串行ADC/DAC 39.外部ROM扩展 40.外部RAM扩展 41.提供2组可调频率输出 |
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| 3 | 实物模块 |
1.提供直流电机模块（带驱动电路、霍尔传感器转速反馈、带指针、配有电源开关） 2.提供步进电机模块（带驱动电路、带指针、配有电源开关） |
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| 4 | 实验功能模块扩展区 |
1.提供80路转换接口 2.提供8个接插底座，可以同时配置2块实验模块 |
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| 5 | 通讯模块 |
1.提供RS-485接口 2.提供RS-232接口 |
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| 6 | 安全防护电源智能保护模块 | 具有欠压、过压、漏电、过流、短路、浪涌保护功能可实现自动重合闸功能，设计额定电压AC220V 50/60Hz，工作电压为额定电压±36%内均可正常工作；漏电保护设定范围可设置，漏电保护动作时间不大于0.1s；过压保护范围可设定，过压保护动作时间不超过5s；过流保护范围可设定，过流保护动作时间不超过5s；短路保护电路为三倍的额定电路，过流保护动作时间不超过0.1s；保护装置具有防雷击功能，L与N间高压脉冲测试2KV不产生误动作；故障信息可保存不少于999个；运行状态及故障状态均有指示灯指示，可显示实时电压、电流、漏电流等参数，具有声光报警功能；具有参数修改设置按键便于现场修改设置保护参数；能够实现有远程DI及DO功能可用于远程控制电源及电源控制柜门打开检测报警；主控装置可具有RS485/wifi接口能够实现多设备连接通信。设备支持云系统远程监控功能，可查看远程实时数据，数据显示，保护参数在线设置等功能，并可远程控制电源打开及关闭等功能。配有无线（有网状态）和有线（离网状态）控制模块，可以通过监控软件监视电源，并可以对设备进行断电/启动控制。还可以控制2路输入可以控制继电器工作。实验室总电源安装可以有效的保护贵重设备。 | |
| 7 | 多功能测试仪 |
显示采用4.3寸4/3 TFT彩色液晶，可进行触摸控制，中文界面； 具有双通道，输入可选择DC/AC两种，显示栅格可设置为10mV、20mV、50mV、100mV、200mV、500mV、1V、2V、5V，测试口可选择X1、X10，可直接输入电压20V不损坏； 带宽10MHz，垂直分辨率12位，时基50us、100us、200us、500us、1ms、2ms、5ms、10ms、20ms、50ms、100ms、200ms、500ms、1s、2s、5s； 触发模式上升沿、下降、外部触发沿可选； 可自动测量峰峰值、平均值、均方根、幅值、频率、周期； 波形运算可选择A+B、A-B、A×B、A/B、FFT； 显示模式可选择正常显示、XY显示； DDS信号源，输出三角波、方波、正弦波，幅度0~3V可调，偏置电压0~±3V可设置分辨率10位，0V偏置时波形在0V对称； 可测量三极管放大电路静态工作点与动态特性； 可DDS扫频示波器测量电路频率特性并自动绘制f-db曲线； 测量结果的波形及数据可通过USB接口保存到外部设备。 提供设计原理图文件、PCB文件、技术说明文件、源代码工程及源文件。 |
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| 8 | 实训导线及配件 | 电源线、数据线、专用导线、程序、光盘、手册、指导书等 |
五、实验项目
1.八位LED流水灯实验
2.内部定时器实验
3.16×16 LED点阵实验
4.4×4矩阵键盘实验
5.八位独立键盘实验
6.外部中断实验
7.十字交通灯实验
8.无源蜂鸣器实验
9.继电器控制实验
10.八位数码管静态显示实验
11.八位数码管动态显示实验
12.DS18B20温度检测实验
13.红外遥控实验
14.RS-485通信实验
15.RS-232通信实验
16.IC卡（AT24C02集成电路）实验
17.74HC165扩展按键实验
18.74HC138译码器实验
19.74HC164扩展输出实验
20.PCF8563实时时钟实验
21.PCF8591扩展AD实验
22.PCF8591扩展DA实验
23.光敏电阻实验
24.NTC热敏电阻实验
25.步进电机驱动实验
26.直流电机驱动实验
27.8155扩展实验
28.8255扩展实验
29.8253扩展实验
30.HM6264外部RAM扩展实验
31.W27C512外部ROM扩展实验
32.基于74LS244与74LS273的IO扩展实验
33.TLC549串行ADC实验
34.TLC5615串行DAC实验
35.ADC0809并行ADC转换实验
36.DAC0832并行DAC转换实验
37.LCD1602驱动实验
38.LCD12864驱动实验
39.AT93C46串行接口存储器实验
40.AT24C02 EEPROM存储实验
